自主：自主分析機器
依頼：依頼分析機器
■磁気共鳴
〇核磁気共鳴（NMR）
・依頼 NMR (700MHz 溶液) Bruker AVANCE NEO （大阪大学）
・依頼 NMR (700MHz 溶液) Bruker AVANCE Ⅲ （大阪大学）
・依頼 NMR (600MHz 固体) Bruker AVANCE Ⅲ （大阪大学）
・依頼 NMR (600MHz 溶液・固体) Agilent VNS （大阪大学）
・依頼 NMR (600MHz 固体) Bruker AVANCE Ⅲ （大阪大学）
・依頼 NMR (600MHz 溶液) Bruker AVANCE Ⅲ HD 600 （大阪公立大学）
・依頼 NMR (500MHz 溶液) JEOL ECZR （大阪大学）
・依頼 NMR (500MHz 溶液) JEOL ECA （大阪大学）
・依頼 NMR (400MHz 溶液・固体) JEOL ECA （大阪大学）
・依頼 NMR (400MHz 固体）Bruker AVANCEⅢ （大阪大学）
・依頼 NMR (400MHz 溶液) JEOL ECS （大阪大学）
・依頼 NMR (400MHz 溶液) JEOL ECS （大阪大学）
・自主 依頼 NMR (400MHz 溶液) JEOL JNM-ECZ （大阪公立大学）
・自主 依頼 NMR (400MHz 溶液) Bruker AVANCE Ⅲ HD （大阪公立大学）
・自主 依頼 NMR (400MHz 溶液) JEOL JNM-ECX （奈良工業高等専門学校）
・依頼 NMR (300MHz 固体) Varian VNS （大阪大学）
・自主 依頼 NMR（300MHz 溶液) Bruker AVANCE nanobay （大阪公立大学）
〇電子スピン共鳴（ESR）
・自主 依頼 X/WバンドESR装置 Bruker Elexsys E600 （大阪公立大学）
・自主 依頼 QバンドESR装置 Bruker Elexsys E580 （大阪公立大学）
・自主 依頼 XバンドCW・パルスESR装置 Bruker ESP 380E （大阪公立大学）
・自主 依頼 XバンドCW-ESR装置 JEOL JES-FE2XG （大阪公立大学）
・依頼 電子スピン共鳴装置 JEOL RESONANCE JES X320 （大阪大学）
・依頼 電子スピン共鳴装置 JEOL JES-FA200 （大阪大学）
■磁気特性測定装置
・依頼 磁気特性測定システム(SQUID) Quantum Design MPMS XL （大阪公立大学）
■質量分析
〇ESI
・依頼 タンデム四重極－飛行時間型質量分析計 (ESI) HPLC装備 Bruker micrOTOF-QIII compact
（大阪大学）
・依頼 タンデム四重極－飛行時間型質量分析計 (ESI) Bruker Daltonics micrOTOF-QII （大阪大学）
・依頼 飛行時間型質量分析計 (ESI) UHPLC装備 JEOL JMS-T100LP （大阪大学）
・依頼 ESI TOF型質量分析装置 Bruker micrOTOF II （大阪公立大学）
〇ESI、DART
・自主 依頼 ESI/DART/CSI-TOF質量分析装置 JEOL JMS-T100LP AccuTOF LC （大阪公立大学）
〇ESI、APCI、ASAP
・依頼 シングル四重極型質量分析計 (ESI・APCI・ASAP) Waters SQD2 （大阪大学）
〇MALDI
・依頼 タンデム飛行時間型質量分析計 (MALDI) JEOL JMS-S3000 （大阪大学）
・依頼 タンデム飛行時間型質量分析計 (MALDI) 島津／KRATOS AXIMA-PERFORMANCE
（大阪大学）
・依頼 飛行時間型質量分析計 (MALDI) 島津製作所 AXIMA-CFR （大阪大学）
・依頼 MALDI TOF型質量分析装置 島津製作所 MALDI-8030 （大阪公立大学）
〇EI、CI
・自主 ガスクロマトグラフ-四重極型質量分析計 (EI・CI) 島津 GCMS- QP2010 ULTRA （大阪大学）
・自主 依頼 ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC-MS イオン化法：EI) 島津製作所 GCMS-QP2010Plus （大阪公立大学）
〇EI、CI、FAB
・依頼 セクター型質量分析計(EI、CI、FAB) JEOL JMS-700(s) （大阪公立大学）
〇EI、Cl、FAB、FD、ESI、APCl
・依頼 セクター型質量分析計 (EI・CI・FAB・FD・ESI・APCI) GC, Direct Probe装備 JEOL JMS-700 （大阪大学）
〇FAB
・自主 セクター型質量分析装置 JEOL JMS-700 （大阪大学）
〇SIMS
・依頼 マルチターン飛行時間型2次イオン質量分析計 SIIナノテクノロジー社 SMI3050MT （大阪大学）
〇TDS-MS
・依頼 昇温脱離ガス質量分析計 電子科学 HA1000PS （大阪大学）
〇その他
・依頼 フェムト秒レーザーイオン化質量分析装置 トヤマ KNTOF-1800 （大阪公立大学）
■クロマトグラフィー
・自主 依頼 液体クロマトグラフ質量分析装置 Waters XevoG2-S Qtof（奈良工業高等専門学校）
・自主 依頼 ガスクロマトグラフ Agilent 6850 （奈良工業高等専門学校）
・自主 依頼 高速液体クロマトグラフシステム Shodex GPC-101 （奈良工業高等専門学校）
■分光分析
〇IR
・依頼 X線光電子分光装置 島津製作所 KRATOS AXIS ULTRA HAS （大阪大学）
・依頼 フーリエ変換赤外分光光度計(赤外顕微鏡付) 日本分光 FT/IR 6100 （大阪大学）
・自主 依頼 フーリエ変換赤外分光光度計 SHIMADZU IRAffinity-1 （奈良工業高等専門学校）
・依頼 時間分解共鳴ラマン分光システム HORIBA Jobin Yvon iHR550（大阪大学）
・依頼 レーザーラマン分光計 日本分光 NR-1800 （大阪大学）
〇蛍光光度計
・自主 依頼 分光蛍光光度計 SHIMADZU RF-5300 （奈良工業高等専門学校）
〇UV-vis
・自主 依頼 紫外可視吸収分光分析装置 SHIMADZU UV-3600 （奈良工業高等専門学校）
〇CD
・自主 依頼 円二色性分散計 日本分光 J-720W （大阪大学）
・自主 依頼 円二色性分散計 JASCO J-820 （奈良工業高等専門学校）
〇Raman
・依頼 顕微ラマン分光装置 日本分光 NRS-3100T （大阪大学）
〇OPO式
・依頼 波長可変OPOパルスレーザー／ナノ・マイクロ秒時間分解分光測定システム 米国Continuum社 Powerlite9010 + Sunlite-EX + FX-1 （大阪大学）
・依頼 高強度フェムト秒レーザー照射装置 タレスジャパン Alpha 100/1000/XS hybrid （大阪公立大学）
〇XPS
・依頼 X線光電子分光装置 島津製作所 XPS/ESCA-3400 （大阪公立大学）
・自主 依頼 X線光電子分光分析装置 PHI 5000 VersaProbe III XPS（奈良工業高等専門学校）
〇その他
・依頼 メスバウア分光装置 Wissel MVT-1000 （大阪公立大学）
■Ｘ線回折
・依頼 2次元迅速測定X線回折装置(湾曲IP) リガク RINT-RAPIDⅡ （大阪大学）
・依頼 単結晶Ｘ線構造解析装置(1光子検出型ハイブリッドピクセル検出器搭載 XtaLAB Synergy Custom) リガク XtaLAB Synergy Custom （大阪大学）
・自主 依頼 低分子用単結晶X線解析装置 リガク AFC11with Saturn 724+ （大阪公立大学）
・自主 依頼 X線回折装置 Rigaku Smart Lab （奈良工業高等専門学校）
・自主 依頼 X線回折装置（XRD） リガク SmartLab（大阪公立大学）
・依頼 単結晶X線構造解析装置 リガク XtaLAB Synergy-S/Cu （大阪公立大学）
■元素分析
〇CHN元素分析
・依頼 有機微量元素分析装置（CHN） YANACO CHNコーダー MT-6 （大阪大学）
・依頼 有機微量元素分析装置（CHN） ジェイ・サイエンス MICROCORDER JM10 （大阪公立大学）
〇ICP
・依頼 ICP-AES（高周波プラズマ発光分析装置) 島津製作所 ICPS-8100 （大阪大学）
・依頼 ICP発光分光分析装置 Perkin Elmer Optima 8300 （大阪大学）
・自主 依頼 ICP発光分析装置 SHIMADZU ICPS-8100 （ 奈良工業高等専門学校)
〇XRF
・依頼 真空仕様共焦点3次元蛍光X線分析装置 (真空仕様) 自作 （大阪公立大学）
・依頼 大気仕様共焦点3次元蛍光X線分析装置 (大気仕様) 自作 （大阪公立大学）
・依頼 全反射蛍光X線分析装置 株式会社リガク ナノハンター（大阪公立大学）
・依頼 X線分析顕微鏡 堀場製作所 XGT-5000（大阪公立大学）
■熱分析
〇ITC
・自主 依頼 超高感度等温滴定型カロリメータ（微量・高感度) MicroCal iTC200型 （大阪大学）
〇DSC
・自主 示差走査微小熱量計 TAInstruments Nano-DSCⅡ Differential Scanning Calorimeter 6100型 （大阪大学）
・自主 依頼 示差走査熱量分析装置 SII X-DSC7000 （奈良工業高等専門学校）
〇TG/DTA
・自主 依頼 熱重量示差熱分析装置 日立ハイテック NEXTA STA300 （奈良工業高等専門学校）
〇SPR
・自主 表面プラズモン共鳴測定装置（SPR) GE Healthcare Biacore T200 （大阪大学）
■電子顕微鏡
〇SEM
・自主 依頼 電界放出形走査電子顕微鏡 JEOL JSM-7800 （奈良工業高等専門学校）
・自主 依頼 走査電子顕微鏡 JEOL JSM-IT100 （奈良工業高等専門学校）
・依頼 EDS元素分析システム搭載電界放出形走査電子顕微鏡 JEOL JSM-7600F （大阪大学）
・自主 元素分析装置(EDS)搭載電界放射走査電子顕微鏡システム JEOL JSM-F100 （大阪大学）
・自主 集束イオンビーム（FIB）ナノ加工顕微鏡装置 日本電子 JIB-4000 （大阪公立大学）
・自主 複合ビーム加工観察装置（FIB-SEM） 日本電子 JIB-4700F （大阪公立大学）
〇TEM
・依頼 高加速透過型電子顕微鏡 JEOL JEM-2100 （大阪大学）
・自主 高加速透過型電子顕微鏡 JEOL JEM-2100 （大阪公立大学）
・自主 透過型電子顕微鏡 Thermo Fisher Scientific (FEI) Talos F200C G2 （大阪公立大学）
〇電顕前処理装置
・自主 凍結試料作製装置 Thermo Fisher Scientific (FEI) Vitrobot Mark IV （大阪公立大学）
・依頼 急速凍結装置 Valiant Instruments CryoPress （大阪公立大学）
■プローブ顕微鏡
・自主 依頼 走査型プローブ顕微鏡 島津製作所 SPM-9700 （奈良工業高等専門学校）
・自主 依頼 高分解能走査型プローブ顕微鏡 SHIMADZU SPM-8000FM （奈良工業高等専門学校）
・自主 走査型プローブ顕微鏡（AFM） 日立ハイテク SPA-400 （大阪公立大学）
■蛍光顕微鏡
・依頼 顕微蛍光イメージング測定装置 オリンパス IX-71 （大阪公立大学）